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          當前位置:首頁   >    產品中心   >    介電常數介質損耗因數測試儀   >    介電常數測試儀GDAT-C   >   GDAT-A高頻介電常數介質損耗測試 產品展示

          高頻介電常數介質損耗測試

          型 號GDAT-A

          更新時間2024-11-20

          廠商性質生產廠家

          報價

          產品描述:高頻介電常數介質損耗測試主要技術指標:

          2.1 tanδ和ε性能:

          2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測試。

          2.1.2 tanδ和ε測量范圍:

          tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

          2.1.3 tanδ和ε測量精度(1MHz):

          tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

          工作頻率范圍:50kHz~50MHz 四位數顯,壓

          產品概述

          其他電性能設備

          電壓擊穿試驗儀

          介電擊穿強度

          固體絕緣材料電氣

          介電強度試驗機

          體積表面電阻率測定儀

          碳素材料電阻率測試儀

          電線電纜導體半導體材料電阻率測試儀

          橡膠塑料滑動摩擦試驗機

          介電常數介質損耗測試儀

          學校介電常數介質損耗測試儀

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          工頻介電常數介質損耗測試儀

          絕緣材料耐電弧性能試驗儀


          高頻介電常數介質損耗測試主要技術特性:介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數字鎖定,標準頻率測試點自動設定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉換,數值顯示等新技術,改進了調諧回路,使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低,并保留了原Q表中自動穩幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質損耗,高頻回路有效并聯及串聯電阻,傳輸線的特性阻抗等。


          電感器:

          按測試頻率要求,需要配置不同量的電感器。

          例如:在1MHz測試頻率時,要配250μH電感器,在50MHz測試頻率時,要配0.1μH電感器等。


          高頻介質樣品(選購件):
          在現行高頻介質材料檢定系統中,檢定部門為高頻介質損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質樣品。

          該樣品由人工藍寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。用戶可按需訂購,以保證測試裝置的重復性和準確性。


          特點: 

          ◎ 本公司創新的自動Q值保持技術,使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

          ◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

          ◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

          ◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數:Q值,測試頻率,調諧狀態等。

          ◎ Q值量程自動/手動量程控制。

          ◎ DPLL合成發生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz測試信號。獨立信號   源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。

          ◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。



          主要技術指標:

          2.1 tanδ和ε性能:

          2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測試。

          2.1.2 tanδ和ε測量范圍:

          tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

          2.1.3 tanδ和ε測量精度(1MHz):

          tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

          工作頻率范圍:50kHz~50MHz    四位數顯,壓控振蕩器

          Q值測量范圍:1~1000三位數顯,±1Q分辨率

          可調電容范圍:40~500 pF  ΔC±3pF

          電容測量誤差:±1%±1pF

          Q表殘余電感值:約20nH


          高頻介質樣品(選購件):
          在現行高頻介質材料檢定系統中,檢定部門為高頻介質損耗測量儀提供的測量標準是高頻標準介質樣品。

          該樣品由人工藍寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。用戶可按需訂購,以保證測試裝置的重復性和準確性。



          裝置:

          2.3.1 平板電容器極片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二種.
          2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
          2.3.3 圓筒電容器線性: 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
          2.3.4 圓筒電容器可調范圍:±12.5mm(±4.2pF)
          2.3.5 裝置插頭間距:25mm±0.1mm
          2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4



          儀器的技術指標

            1.Q值測量

             a.Q值測量范圍:2~1023。

             b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。

           c.標稱誤差

          項    目

          GDAT-A

          頻率范圍

          20kHz~10MHz;

          固有誤差

          ≤5%±滿度值的2%;

          工作誤差

          ≤7%±滿度值的2%;

          頻率范圍

          10MHz~60MHz;

          固有誤差

          ≤6%±滿度值的2%;

          工作誤差

          ≤8%±滿度值的2%。




           2.電感測量范圍:14.5nH~8.14H 


          3.電容測量:1~ 460

          項    目

          GDAT-A

          直接測量范圍

          1~460pF

          主電容調節范圍

          準確度

          30~500pF

          150pF以下±1.5pF;

          150pF以上±1%

             注:大于直接測量范圍的電容測量見使用規則

           4.信號源頻率覆蓋范圍

          項     目

          GDAT-A

          頻率范圍

          10kHz~50MHz

          頻率分段

          (虛擬)

          10~99.9999kHz

          100~999.999kHz

          1~9.99999MHz

          10~60MHz     

          頻率指示誤差

          3×10-5±1個字




          5.Q合格指示預置功能

          預置范圍:5~1000。

           6.Q表正常工作條件

           a. 環境溫度:0℃~+40℃

          b.相對濕度:<80%; 

          c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

          7.其他

            a.消耗功率:約25W;  

          b.凈重:約7kg;  

          c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。

          8.產品配置:

          a.測試主機一臺;

          b.電感9只;

          c.夾具一 套 


          滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法

          概述

          介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數字鎖定,標準頻率測試點自動設定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉換,數值顯示等新技術,改進了調諧回路,使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低,并保留了原Q表中自動穩幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質損耗,高頻回路有效并聯及串聯電阻,傳輸線的特性阻抗等。

          該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。

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